IMP: Sick consigue mediante el sistema de medición láser LMS400 la depaletización automática de cigüeñales

AutoRevista Digital.- Sick, compañía especializada en los campos de seguridad industrial y sensórica, ha resuelto, gracias a su sistema de medición láser LMS400, el problema que presenta el traslado de cigüeñales en jaulas de tela metálica hasta un puesto robotizado en una planta de producción de automóviles. Según indican desde la compañía, “se buscaba un sistema que pudiera detectar, de forma rápida y precisa, datos tridimensionales y controlar el robot a través de un programa de evaluación”.

Para la resolución de este problema, comentan desde Sick, el robot de recogida debe controlarse de forma que sepa la forma, la posición y la altura de los cigüeñales en el carro y pueda, así, colocar correctamente la pinza. El sistema de medición láser LMS400, a partir del haz láser emitido por el dispositivo y del movimiento giratorio del LMS en torno a los cigüeñales, detecta su posición, forma y altura en tres dimensiones en las jaulas. Con esta tecnología, al robot le son suministrados todos los datos relevantes de forma rápida y de modo que pueda depaletizar los cigüeñales a alta velocidad.

Para que el sistema LMS400 pueda operar de esta manera cuenta con un detector de posición y manipulación que utiliza la tecnología de procesamiento de señales de frecuencia (FSP, en sus siglas en inglés). Dicha tecnología está basada en la medición de tiempo de propagación de la fase, “por lo que puede detectar hasta los más mínimos detalles a alta velocidad”.

Entre las ventajas que los clientes pueden obtener con esta tecnología destaca “el aumento significativo de los tiempos de ciclo para el robot, puesto que ya no es necesario modificar su programa, el software de control ni los componentes mecánicos”, aseguran en Sick. Además, “los tiempos de inactividad del detector son muy reducidos, ya que requieren un mantenimiento mucho menor que un sistema de cámara convencional. Otra ventaja es que el detector puede obtener datos adicionales de la remisión, basándose en la energía reflejada por el objeto”.