National Instruments organiza un foro de automoción para mostrar cómo su tecnología se adapta a cada necesidad

National Instruments, especialista mundial en soluciones de pruebas, medidas y control, ha organizado, para el próximo 16 de junio en Barcelona (Hotel Vincci Maritimo), un foro del automóvil. En esta jornada se alternarán estudios de casos reales y sesiones técnicasmostrando cómo la tecnología desarrollada por NI se adapta a cada necesidad. “Desde el análisis de datos hasta la validación para poder llegar a la estandarización de los sistemas de prueba, National Instruments mostrará las herramientas desarrolladas para cada caso concreto”, comentan desde el empresa.

El evento comenzará con la ponencia de Jorge Cuadrado (National Instruments) sobre los vehículos inteligentes y definirá las estrategias de prueba y validación para los coches conectados. Según señalan desde NI, gracias al empuje del Internet de las Cosas (IoT), alrededor del 60% de los vehículos estarán conectados en el futuro a través de la tecnología inalámbrica, superando el concepto clásico de información y entretenimiento. NI ya está siguiendo esta tendencia que integrará innovadoras tecnologías en todas las fases de desarrollo de las aplicaciones, desde le diseño hasta las pruebas.

La tecnología móvil y los vehículos, así como las estrategias de prueba para los nuevos dispositivos de a bordo, será el tema de la ponencia de Nicholas Keel (National Instruments) y Fernando Leite (Controlar). Keel explicará como la tecnología móvil cada vez más integrada en la industria de automoción somete a los equipos de ingenieros a plantearse nuevos retos e integrar normas y metodologías que nunca antes se habían implantado. Por su parte, Leite, comentará cómo Controlar se ha enfrentado a estos retos utilizando la tecnología de NI.

El problema de los grandes volúmenes de datos y de su impacto en las empresas y en la ingeniería de las aplicaciones también será tratado de la mano de Otmar Foehner (National Instruments). Los enfoques tradicionales utilizados en aplicaciones comerciales, de marketing y de medios de comunicación social no son adecuados para resolver los retos de ingeniería, sin embargo, las herramientas de NI demostrarán que permiten el análisis, la transferencia y el almacenamiento de una gran cantidad de datos analógicos.

En la jornada Javier Gutiérrez (National Instruments) tratará la forma en la que NI está cambiando la forma en que los ingenieros enfocan las pruebas HIL en automóviles y cómo las utilizan especialistas de la industria de todos los países del mundo con el fin de crear una plataforma estandarizada que permita a los ingenieros adaptarse a los requisitos cambiantes del sistema. En este apartado también se contará con la participación de Joao Pardal de Altran, que compartirá su experiencia trabajando en proyectos HIL.

Finalizará el foro con la presentación por parte de Ram Mirwani (National Instruments) de la visualización de las opciones que ofrece NI en el diseño de aplicaciones de radiofrecuencia para automoción y su plataforma de test.