Zeiss organiza una jornada sobre tomografía computarizada
La compañía Zeiss, especialista en soluciones de metrología, y el centro tecnológico IK4-Tekniker, organizan la jornada 'Tomografía: tecnologías y aplicaciones' que tendrá lugar el 12 de noviembre en las instalaciones del centro en Éibar (Guipúzcoa).
“En los últimos años, la tomografía computarizada ha supuesto un importante avance para la inspección, tanto superficial como interior, de piezas pequeñas de gran complejidad, analizando piezas de forma no destructiva, agilizando significativamente los procesos de producción y optimizando las inspecciones”, apuntan fuentes de Zeiss. Por esa razón, se ha diseñado una jornada con el objetivo de dar a conocer la última tecnología de tomografía computarizada en sectores como la automoción, la fundición del metal o la biomedicina, así como descubrir casos prácticos que han abierto nuevas posibilidades dentro de la industria.
Unai Mutilba, técnico de la Unidad de Metrología de IK4-Tekniker abrirá el programa de ponencias con la presentación 'Tecnologías de medición 3D'. A continuación, Sergi Aymerich, responsable de Servicios de Medición de ZEISS Iberia, hablará sobre las nuevas posibilidades de medición con rayos X y presentará casos prácticos. Sobre 'Microscopía por rayos X aplicada a la industria' versará la charla de David Jiménez, director de marketing y especialista de Producto de Microscopía Electrónica de ZEISS Iberia, que también expondrá casos prácticos sobre esta materia. La jornada finalizará con una visita a las instalaciones de IK4-Tekniker. El acto tambien contará con la presencia de Antonio Gutiérrez, director de la unidad Metrología de IK4-Tekniker y Antonio Martínez, director de la división de Metrología de Zeiss Iberia.
La asistencia es gratuita y el plazo de inscripción termina el 4 de noviembre.
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