ZEISS mostrará su gama de soluciones en metrología industrial en Control 2016
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ZEISS mostrará su gama de soluciones en metrología industrial en Control 2016

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La multinacional alemana ZEISS, especializada en soluciones de metrología, estará presente, del 26 al 29 de abril, en la 30ª Feria Internacional Control que tendrá lugar en Stuttgart (Alemania) y que es considerada como uno de los encuentros claves, a nivel mundial, para profesionales de la industria del control de calidad.


ZEISS ha comunicado que participará con un stand en el que mostrará una amplia gama de soluciones en metrología industrial y microscopía para optimizar los negocios. Así, los visitantes podrán conocer, de primera mano, los equipos en medición táctil de la compañía, entre los que destaca la DuraMax, “que permite llevar a cabo mediciones de gran rendimiento en el taller, integrándose por completo en el ciclo de producción”.


En medición óptica, aseguran desde la compañía, los profesionales podrán experimentar, entre otros, con los equipos O-Select, “que permiten realizar mediciones de forma automatizada con sólo pulsar un botón” y O-Inspect, con tecnología multisensor.


Asimismo, ZEISS podrá informar de las amplias capacidades y aplicaciones de los equipos de tomografía computarizada Metrotom 800 y Metrotom 1500, para la inspección, superficial e interior, de piezas pequeñas de gran complejidad, así como la generación de modelos 3D.


En el stand de la compañía también se podrá conocer el nuevo software PiWeb, “un innovador sistema de gestión de datos de metrología rápido y sencillo”, además del nuevo Comet L3D2, un equipo con el que ZEISS introduce por primera vez tecnología de digitalización óptica en 3D para mediciones rápidas y automatizadas, y, en equipos de microscopía, los visitantes podrán experimentar con los nuevos Smart Zoom 5 y Smartproof 5, entre otros.


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