18/05/2017
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National Instruments presenta novedades enfocadas en la reducción de costes
Actualizaciones con mejor rendimiento y costes del WTS de NI. Actualizaciones con mejor rendimiento y costes del WTS de NI.// FOTO: NI
National Instruments (NI), proveedor de sistemas basados en plataforma concebidos para que los ingenieros y científicos puedan resolver dificultades de alta complejidad, ha implementado actualizaciones del sistema de prueba inalámbrica (WTS), la solución de NI para las pruebas automatizadas multisitio de dispositivos inalámbricos. La última versión 1.3 del WTS incluye compatibilidad para configuraciones multicanal 8x8 y pasos personalizados de prueba 802.11ax con control DUT (dispositivo en prueba) para realizar la prueba paralela eficaz de nuevos dispositivos con conectividad basada en el proyecto de estándar IEEE 802.11ax (proyecto 1.1).

“El rápido ritmo de cambio en los estándares inalámbricos modernos junto con la constante presión del mercado por reducir el coste de prueba requiere sistemas de prueba más inteligentes”, afirmó Charles Schroeder, vicepresidente de marketing de RF en NI. El directivo de la multinacional estadounidense añadió que “una solución de prueba – como el WTS – que se optimiza para la ejecución rápida multi-DUT basada en software flexible y hardware modular, ayuda a proporcionar ventajas significativas de coste, producción y de preparación para el futuro”.

Por otro lado, NI ha lanzado una nueva familia de generadores de forma de onda arbitraria PXI con hasta dos canales y 80 MHz de ancho de banda analógico en una sola ranura y un nuevo osciloscopio de 100 MHz y 8 canales. Según la compañía, los ingenieros pueden conseguir generación de señales de alto rendimiento y medir formas de ondas complejas con estos nuevos instrumentos de señal mixta, compactos y de bajo coste en un factor de forma modular.

Además, la firma norteamericana ha puesto en el mercado el WLAN Test Toolkit 17.0 que, combinado con el transceptor vectorial de señal (VST) de segunda generación de NI, es compatible con la generación y el análisis de la forma de onda 802.11ax para la prueba de caracterización, validación y producción de productos, como componentes de RF front end, módulos inalámbricos y dispositivos de usuario, que implementan el proyecto 1.1 de la norma IEEE 802.11ax.

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